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PN型测试仪可以测试硅片PN型号、硅片厚度也是影响生产力的一个因素,因为它关系到每个硅块所生产出的硅片数量。超薄的硅片给线锯技术提出了额外的挑战,因为其生产过程要困难得多。除了硅片的机械脆性以外,如果线锯工艺没有精密控制,细微的裂纹和弯曲都会对产品良率产生负面影响。超薄硅片线锯系统必须可以对工艺线性、切割线速度和压力、以及切割冷却液进行精密控制。
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PN型测试仪特点:
导电性:n型硅片具有良好的电子导电性。它的导电性主要来源于额外添加的五价元素如磷或砷,这些元素会提供自由电子,使得n型硅片带负电荷。相反,p型硅片则通过掺入三价元素如硼或铝,形成空穴。空穴在这种材料中具有正电荷,从而导致p型硅片呈现出正电导特性。
杂质掺入:n型和p型硅片的区别还在于掺杂的杂质类型和浓度。n型硅片通常通过在硅晶体中引入少量的五价元素来形成,以增加自由电子数量。这些杂质被称为施主杂质。相反,p型硅片需要引入三价元素作为受主杂质,以捕获并增加电子空穴。
工作原理:n型和p型硅片的不同导致了半导体器件的工作原理差异。当n型和p型硅片通过特定方式连接时,形成了一个结构称为PN结。PN结具有整流特性,即只允许电流在一个方向上通过。这种特性使得硅片可以用于制造二极管、晶体管和其他各种半导体器件。
应用领域:n型和p型硅片在不同的应用领域发挥着重要作用。n型硅片通常用于制造电子器件如晶体管和集成电路,而p型硅片则广泛应用于太阳能电池板等光电器件的制造。
硅片厚度也是影响生产力的一个因素,因为它关系到每个硅块所生产出的硅片数量。超薄的硅片给线锯技术提出了额外的挑战,因为其生产过程要困难得多。除了硅片的机械脆性以外,如果线锯工艺没有精密控制,细微的裂纹和弯曲都会对产品良率产生负面影响。超薄硅片线锯系统必须可以对工艺线性、切割线速度和压力、以及切割冷却液进行精密控制。
PN型测试仪技术参数:
重量 | 35kg |
尺寸 | 460mm(长)×505mm(宽)×205mm(高) |
接口 | 以太网口×1,DB9×1 |
电源线接口×1,脚踏开关×1 | |
开关按钮×1,气源口×1 | |
硅片要求 | 方片:125mm×125mm,156mm×156mm |
圆片(寸):4",5",6",8",12" | |
硅片厚度范围:50μm~1000μm | |
硅片电阻率范围:0.1Ω·cm~20Ω·cm(电阻率范围可定制)(厚度约180μm) | |
数据指标 | |
单点及多点厚度 | 误差≤±3.00μm |
重复性≤±0.5μm | |
电阻率 | 误差≤±2% |
重复性≤0.5% | |
环境要求 | |
温度 | 22℃~25℃ |
湿度 | 35%~60%RH |
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