2025半导体先进技术创新发展和机遇大会(SAT CON 2025)旨在加大上下游联动,促进整个产业链有序、高效地蓬勃发展,为与会者提供半导体领域内功率电子、微波射频、光电子材料等前沿技术、产品、标准以及材料应用的最新信息。
有各路半导体领域的顶尖专家学者、行业人才及创新先锋共襄盛举。让为大会增添璀璨光芒,让我们携手共绘泛半导体产业发展的宏伟蓝图,以智慧碰撞激发创新火花,共同谱写行业发展的崭新篇章!
公司成立于2021年,是一家注册在苏州、具备先进技术的非接触式半导体检测分析设备制造商。公司集研发、设计、制造、销售于一体,主要攻克国外垄断技术,替代进口产品,使半导体材料测试设备国产化。
主要产品:非接触式无损方块电阻测试仪、晶圆方阻测试仪,方阻测试仪,硅片电阻率测试仪,涡流法高低电阻率分析仪,晶锭电阻率分析仪,涡流法电阻率探头和PN探头测试仪,迁移率(霍尔)测试仪,少子寿命测试仪,晶圆、硅片厚度测试仪,表面光电压仪JPV\SPV。为碳化硅、硅片、氮化镓、氧化镓、薄膜、玻璃、衬底和外延厂商提供测试和解决方案。
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