公司参加化合物半导体先进技术大会

2025半导体先进技术创新发展和机遇大会（SAT CON 2025）旨在加大上下游联动，促进整个产业链有序、高效地蓬勃发展，为与会者提供半导体领域内功率电子、微波射频、光电子材料等前沿技术、产品、标准以及材料应用的最新信息。

有各路半导体领域的顶尖专家学者、行业人才及创新先锋共襄盛举。让为大会增添璀璨光芒，让我们携手共绘泛半导体产业发展的宏伟蓝图，以智慧碰撞激发创新火花，共同谱写行业发展的崭新篇章！

公司成立于2021年，是一家注册在苏州、具备先进技术的非接触式半导体检测分析设备制造商。公司集研发、设计、制造、销售于一体，主要攻克国外垄断技术，替代进口产品，使半导体材料测试设备国产化。

主要产品：非接触式无损方块电阻测试仪、晶圆方阻测试仪，方阻测试仪，硅片电阻率测试仪，涡流法高低电阻率分析仪，晶锭电阻率分析仪，涡流法电阻率探头和PN探头测试仪，迁移率（霍尔）测试仪，少子寿命测试仪，晶圆、硅片厚度测试仪，表面光电压仪JPV\SPV。为碳化硅、硅片、氮化镓、氧化镓、薄膜、玻璃、衬底和外延厂商提供测试和解决方案。