半导体设备年会展示

九域半导体科技（苏州）有限公司欢迎您参观第十四届半导体设备材料及核心部件展（CSEAC2026)，展会将于2026年8月31-9月2日在无锡太湖国际博览中心召开，我司位于A6-769展位，公司带去全新产品，

本次展出的非接触霍尔测试系统，基于微波霍尔原理，无需制备欧姆电极，实现晶圆无损检测，可完成方块电阻、载流子浓度、迁移率、导电类型测量，支持单点测试与晶圆 Mapping 面扫描，适配 GaN、SiC、ITO 透明导电薄膜等材料，解决传统接触式测试损伤样品、接触电阻干扰测量的痛点。同时展出的方阻测试仪、电阻率分析仪，具备高精度、高重复性特点，广泛应用于外延来料检验、工艺监控与研发测试场景。

展会现场，众多来自外延厂、科研院校、半导体材料企业的工程师驻足展台，现场观摩设备演示，针对测试精度、样品适配、校准方案、设备维保等技术问题，与九域半导体技术团队开展深入研讨。团队结合客户产线实际痛点，提供定制化电学检测整体解决方案，获得现场客户高度认可。