方块电阻又称膜电阻，是用于间接表征薄膜膜层、玻璃镀膜膜层等样品上的真空镀膜的热红外性能的测量值，该数值大小可直接换算为热红外辐射率。方块电阻的大小与样品尺寸无关，其单位为Siements/sq，后增加欧姆/sq表征方式，该单位直接翻译为方块电阻或者面电阻，用于膜层测量又称为膜层电阻。方块电阻有一个特性，即任意大小的正方形测量值都是一样的，不管边长是1米还是0.1米，它们的方阻都是一样，这样方阻仅与导电膜的厚度等因素有关，表征膜层致密性，同时表征对热红外光谱的透过能力，方块电阻...

涡流法电阻率是一种非接触式的测量方法，主要用于测量材料的电阻率而不会损伤被测物体的表面。‌这种方法基于电磁感应原理，通过检测材料中的涡流来评估其电阻率。涡流法电阻率测量技术的原理是：当交变电流通过导体时，会在其周围产生一个交变磁场，这个磁场会在导体表面产生涡流。这些涡流会产生一个反作用磁场，通过探测这个反作用磁场，可以计算出材料的电阻率。这种方法具有无接触、精度高、成本低、检测速度快等优点，特别适用于恶劣环境下的测量‌。涡流法电阻率测量技术的应用非常广泛，包括半导体、化合物半...