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非接触式无损测厚仪采用的工作原理是光热红外法。利用光源照射物体表面,通过对激励光源进行强度调制,在材料中产生热波,光源激发的热量通过热波在涂层中向深处传播,这一热波在涂层与基材的边界处反射并最终传播出...
非接触式无损测厚仪采用的工作原理是光热红外法。利用光源照射物体表面,通过对激励光源进行强度调制,在材料中产生热波,光源激发的热量通过热波在涂层中向深处传播,这一热波在涂层与基材的边界处反射并最终传播出...
非接触式无损测厚仪采用的工作原理是光热红外法。利用光源照射物体表面,通过对激励光源进行强度调制,在材料中产生热波,光源激发的热量通过热波在涂层中向深处传播,这一热波在涂层与基材的边界处反射并最终传播出...
在半导体制造领域,晶圆的厚度测量是至关重要的一环,它直接关系到产品的质量和性能。为了满足高精度测量的需求,我们研发了一款对射非接触式光谱共焦位移传感器厚度测量设备,专门用于晶圆厚度的精确测量
金刚石膜检测与测试报告 检测项目 金刚石膜的检测项目主要包括以下几个方面:膜厚度、晶体结构、表面粗糙度、附着力、热稳定性及耐磨性等。
硅片厚度测试的方法主要包括非接触式光学测量技术,如反射率法、干涉法和激光扫描共聚焦显微镜等1。其中,反射率法是通过测量不同角度下光线的反射率变化来计算硅片厚度,而干涉法则是利用光的干涉现象来测量厚...
非接触式半绝缘方阻测量技术可以广泛应用于各种领域,比如材料表面导电性测试、薄膜导电性测量、电路板测试等。它具有测量快速、精度高、不损伤被测物体等优点。
半绝缘电阻率通常介于1-1000欧姆·厘米之间,是描述半绝缘材料导电性能的关键参数。这种材料在电子工业中应用广泛,特别是在制造半导体器件、绝缘层和光电材料等方面。非接触半绝缘电阻率可测试该产...
关于我们 ABOUT
2021年
公司成立1000万
注册资金28个
专利技术365天
用心服务每一天技术文章 ARTICLES
迁移率测试仪是用于测量材料中载流子(如电子、离子)迁移速率的专业设备,广泛应用于半导体、新能源电池、纳米材料等领域。其通过精确控制电场、温度等条件,量化载流子在材料中的移动能力,为材料性能评估与研发提供关键数据。一、使用前准备(一)设备检查使用前需全面检查迁移率测试仪各部件状态。查看主机外壳是否完好,确认显示屏、操作按钮、接口等无损坏;检查电场发生装置、温度控制系统、数据采集模块等核心组件连接是否稳固。特别要检查测试腔密封性,确保无漏气、漏液现象,避免外部环境干扰测试结果。同...
半绝缘碳化硅与导电性碳化硅在电特性和应用领域上差异显著。半绝缘碳化硅,作为一种电阻率较高的材料,其电阻率范围通常在10^5-10^12Ω.cm,非常适用于高温、高电压环境,如电力电子设备和电动汽车部件。而导电性碳化硅,电阻率低,位于10^-3-10^-2Ω.cm之间,更适合低压、高电流场景,如功率半导体和射频电子器件。此外,由于成分和制备工艺的差异,导电性碳化硅的成本相对较高,而半绝缘碳化硅则因其电性能要求较低而成本更为亲民。因此,在选择材料时,需根据具体应用环境来决定:高温...
无损方块电阻测试仪是一种用于测量材料表面电阻的仪器,特别适用于评估半导体材料、电导体、绝缘体以及其他具有电导性能的材料。与传统的电阻测试方法不同,通过非接触方式进行测量,无需破坏或接触被测试材料的表面,具有高精度、高效率和对测试对象的保护作用。广泛应用于半导体、电子元器件、材料科学、表面处理等领域。在工业生产过程中,检测电导性能可以有效地保证产品质量,确保制造过程中材料的电学性能符合标准要求。无损方块电阻测试仪的主要特点:1.无接触测试大的优势之一就是其无接触性。传统的电阻测...
非接触电阻率测试仪是一种先进的电气测量工具,旨在精准测量材料的电阻率而无需与样品直接接触。这种仪器在电子、材料科学、电气工程和环保监测等领域具有广泛应用。随着科技进步和市场需求的增加,应用场景正在不断扩展。非接触电阻率测试仪的工作原理:1.电磁感应原理:利用高频电流通过探头产生的电磁场与样品的相互作用,来测量材料的电阻特性。仪器通过变化电磁场的强度和频率,从而分析材料的电导和电阻率。2.反射和透射技术:通过向样品发射电信号,并分析其反射或透射回来的信号,以确定材料的电阻率。这...
硅片电阻率测试仪的维护工作对于确保测试结果的准确性和仪器的使用寿命至关重要。日常清洁外壳与电极清洁:定期使用干细棉布或擦拭纸轻轻擦拭测试仪的外壳,去除灰尘、油污等杂质,防止其进入仪器内部影响性能。对于测量电极部分,更要仔细清洁,可使用干净的棉签蘸取少量酒精进行擦拭,去除电极上的污垢和残留物,但要注意避免液体接触到仪器内部的电子元件。显示面清洁:先用拭镜纸轻轻擦拭显示面表面,去除灰尘和指纹等污渍,然后再用棉花棒沾工业用酒精,轻轻擦拭显示面表面,并需等酒精挥发后,再装回去。注意擦...
知识产权贯标是指企业贯彻《企业知识产权管理规范》国家标准的过程。该标准由国家知识产权局制订,并经由国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会批准颁布,于2013年3月1日起实施,标准号为GB/T29490-2013。12知识产权贯标的目的和意义知识产权贯标的核心目的是为建立企业知识产权工作的规范体系,加强对企业知识产权创造、运用、管理和保护的管理,增强自主创新能力,提高国际、国内市场竞争能力。通过贯标,企业可以规范知识产权管理的基础条件、资源管理、生产经营各个环节的管...