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随着光伏产业的迅猛发展,生产效率和产品质量的提升已成为行业关注的焦点。在光伏电池片的生产中,方阻检测是确保电池片质量和性能的关键环节之一。传统的方阻检测方法大多依赖接触式测试,这不仅容易损伤材料,还难...
主要利用结光电压技术非接触测试具有P/N或N/P结构的样品的方阻(发射极薄层方阻),本仪器为非接触,非损伤测试,具有测试速度快,重复性佳,测试敏感性高,可以直接测试产品片等优点。
在霍尔效应传感器中,自由电子的移动能力通过迁移率来量化,这是衡量电子在材料中移动难易程度的关键指标。迁移率典型范围一般在5至50平方厘米/伏秒之间详情介绍我公司特点非接触霍尔迁移率(Hall mob...
在霍尔效应传感器中,自由电子的移动能力通过迁移率来量化,这是衡量电子在材料中移动难易程度的关键指标。迁移率典型范围一般在5至50平方厘米/伏秒之间
即少数载流子寿命。光生电子和空穴从一开始在半导体中产生直到消失的时间称为寿命。载流子寿命就是指非平衡载流子的寿命。而非平衡载流子一般也就是非平衡少数载流子(因为只有少数载流子才能注入到半导体内部、并积...
外延电阻率方阻测试仪:外延是半导体工艺当中的一种。在bipolar工艺中,硅片最底层是P型衬底硅(有的加点埋层);然后在衬底上生长一层单晶硅,这层单晶硅称为外延层;再后来在外延层上注入基区、发射区等等...
衬底电阻率方阻测试仪:衬底,或称基片(substrate),是指在半导体器件制造过程中用来支持其他材料或结构的底层材料。衬底的物理性质包括其晶体结构、机械强度、热导率、膨胀系数等,而化学性质则涵盖其纯...
玻璃方阻测试仪应用ITO导电玻璃的时候,往往会提到一个重要的参数,这个参数就是:方阻,也称方块电阻。同时,我们也可以将其理解为ITO的表面电阻率。
关于我们 ABOUT
2021年
公司成立1000万
注册资金28个
专利技术365天
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知识产权贯标是指企业贯彻《企业知识产权管理规范》国家标准的过程。该标准由国家知识产权局制订,并经由国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会批准颁布,于2013年3月1日起实施,标准号为GB/T29490-2013。12知识产权贯标的目的和意义知识产权贯标的核心目的是为建立企业知识产权工作的规范体系,加强对企业知识产权创造、运用、管理和保护的管理,增强自主创新能力,提高国际、国内市场竞争能力。通过贯标,企业可以规范知识产权管理的基础条件、资源管理、生产经营各个环节的管...
非接触电阻率测试仪的使用指南:设备安装仪器放置:放置在平稳、干燥、无强磁场干扰且通风良好的工作台上,避免阳光直射和高温环境,以防仪器内部元件受损。同时,要确保测试区域周围有足够的空间,方便操作人员进行样品放置和测试操作。连接电源:使用标准三插头电源线,将测试仪的电源接口与220V交流电插座连接,并确保电源地线正确连接,以保证仪器的电气安全。设备检查外观检查:仔细检查测试仪的外观是否有损坏、变形或裂缝等情况。特别要注意探头部分是否清洁、无磨损,显示屏是否清晰可见、无划痕等。如果...
即少数载流子寿命。光生电子和空穴从一开始在半导体中产生直到消失的时间称为寿命。载流子寿命就是指非平衡载流子的寿命。而非平衡载流子一般也就是非平衡少数载流子(因为只有少数载流子才能注入到半导体内部、并积累起来,多数载流子即使注入进去后也就通过库仑作用而很快地消失了),所以非平衡载流子寿命也就是指非平衡少数载流子寿命,即少数载流子寿命。半导体材料中有电子和空穴两种载流子。如果在半导体材料中某种载流子占少数,导电中起到次要作用,则称它为少子。如:在N型半导体中,空穴是少数载流子,电...
迁移率测试仪是一种专门用于测量材料(通常是聚合物、涂料、包装材料等)中迁移物质的迁移速率的设备。迁移物质是指在一定条件下从材料表面或内部迁移到环境中的化学物质,这些物质可能是有害的,或者影响材料的性能和使用安全。因此,迁移率测试在很多行业中都具有重要的应用,尤其是在食品包装、医疗设备、环保等领域。主要功能是评估不同物质在特定条件下(如温度、湿度、时间等)向外界迁移的速率,进而帮助评估材料的安全性、耐用性以及适用性。迁移率(MigrationRate)指的是单位时间内,从某一物...
方块电阻测试仪在薄膜或薄层半导体材料中的应用方块电阻测试仪是一种用于测量半导体材料电阻率的仪器,通常用于涂层和薄膜半导体材料的电阻率测量。这种仪器能够测量样品的电导率和电阻率,以及材料的载流子浓度和迁移率等参数。在涂层和薄膜半导体材料中,方块电阻测试仪可以用于测量材料厚度、均匀性和电性能等特性。这些特性对于评估材料的质量和控制生产过程非常重要。此外,方块电阻测试仪还可以用于研究半导体材料中的界面反应和载流子输运机制等科学问题。非接触式测试方块电阻也是一个好的方法和选择。
方块电阻又称膜电阻,是用于间接表征薄膜膜层、玻璃镀膜膜层等样品上的真空镀膜的热红外性能的测量值,该数值大小可直接换算为热红外辐射率。方块电阻的大小与样品尺寸无关,其单位为Siements/sq,后增加欧姆/sq表征方式,该单位直接翻译为方块电阻或者面电阻,用于膜层测量又称为膜层电阻。方块电阻有一个特性,即任意大小的正方形测量值都是一样的,不管边长是1米还是0.1米,它们的方阻都是一样,这样方阻仅与导电膜的厚度等因素有关,表征膜层致密性,同时表征对热红外光谱的透过能力,方块电阻...