涡流法‌电阻率方阻是一种利用电磁感应原理进行检测的方法。当载有交变电流的试验线圈靠近导体工件时，会产生交变磁场，进而在工件中感生出密闭的环状电流，即涡流。涡流的大小、相位及流动形式受到工件性质（如电导...

设备主要利用涡电流测试原理，非接触测试半导体材料，石墨烯，透明导电膜，碳纳米管，金属等材料的方阻（电阻率）。可实现单点测试，亦可以实现面扫描的测试功能，可用于材料研发及工艺的监测及质量控制

PN型测试仪可以测试硅片PN型号、硅片厚度也是影响生产力的一个因素，因为它关系到每个硅块所生产出的硅片数量。超薄的硅片给线锯技术提出了额外的挑战，因为其生产过程要困难得多。除了硅片的机械脆性以外，如果...

我司主营：晶圆电阻率测试仪，硅片电阻率测试仪，涡流法低电阻率分析仪，晶锭电阻率分析仪，迁移率（霍尔）测试仪，迁移率少子寿命测试仪。

涡流法电阻率测试仪的样品尺寸：2“-8“或者16mm×16mm的方形样品；迁移率测量范围：100-20000（cm2/v.sec)；方块电阻测量范围：100-3000（ohm/sq)；载流子...

晶圆电阻率测试仪，硅片电阻率测试仪，涡流法电阻率分析仪，晶锭电阻率分析仪，迁移率（霍尔）测试仪，少子寿命测试仪，为晶圆、碳化硅、硅片、封装测试等生产和品质监控，提供一整套完整测试和解决方案。

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主营产品：晶圆方阻测试仪、晶圆电阻率测试仪，硅片电阻率测试仪，涡流法低电阻率分析仪，晶锭电阻率分析仪，迁移率（霍尔）测试仪，少子寿命测试仪，测试硅片，碳化硅、科研大学提供服务。